半导体制冷片也叫作热电制冷片，当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时，利用半导体材料的Peltier效应，在电偶的两端即可分别吸收热量和放出热量，可以达到制冷的效果。半导体制冷片主要是应用在空间有限制、可靠性要求高、无制冷剂污染的场合。
一、红外热像仪的检测原理
红外热像仪利用红外探测器、光学成像物镜接收被测目标的红外辐射能量分布图形反映到红外探测器的光敏元上，而获得红外热像图，这种热像图与物体表面的热分布场相对应。通俗来说红外热像仪就是将物体发出的不可见红外能量转变为可见的热图像，热图像上的不同颜色代表被测物体的不同温度。
二、半导体制冷的原理
半导体制冷器件的正常工作是利用半导体材料的Peltier效应，当一块N型半导体材料和一块P型半导体材料串联成的热电偶对中有电流通过时，电偶两端之间就会产生热量转移，电流由N型元件流向P型元件的接头吸收热量，成为冷端；由P型元件流向N型元件的接头释放热量，成为热端。吸热和放热的大小是通过电流的大小以及半导体材料N、P的元件对数来决定的。
红外热像仪应用于半导体制冷片温度检测红外热像仪应用于半导体制冷片温度检测
三、红外热像仪在半导体制冷片研究中的应用特点
红外热像仪可以用于观察半导体制冷片在制冷过程中可以达到的温度，可直观地看到温度的变化和分布情况，但红外热像仪应用于半导体制冷片检测有以下检测难点：
1、温度从室温到低温快速变化，温度变化前期3秒钟温度下降4.45℃；
2、温度低，对红外热像仪的稳定性提出更高要求；
3、材料小，结冰的冰渣直径在1mm以内。
4、红外热像仪应用于半导体制冷片温度检测
5、红外热像仪应用于半导体制冷片温度检测
6、红外热像仪测温精度高，热灵敏度高、性能稳定且成像清晰，可以实时观察半导体制冷片表面的温度变化，并进行分析。
